借助先进的加工与计量检测设备,实现完善的质量管理体系。

{

技术设备. Technology

}

借助先进的加工与计量检测设备,实现完善的质量管理体系。

01

材料工艺设备

Processing

02

加热器制造设备

Manufacturing

03

检测及测量设备

Inspection

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材料工艺设备

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材料工艺设备

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检测及测量设备

Inspection

{

为什么选择HSCK

}

从表面分析到尺寸验证——HSCK面向极致品质的超精密测量解决方案

超精密三维及表面形貌测量(Nano-Scale Analysis)

通过纳米及微米级微细表面粗糙度与三维形貌分析,最大程度提升超精密零部件的制造完成度。

- 3D激光显微镜(KEYENCE VK-X系列): 采用激光共焦方式,以1nm(纳米)分辨率进行表面形貌测量,重复精度达0.08nm级别。

- 3D图像尺寸测量系统(KEYENCE LM-X系列): 通过高分辨率图像传感器实现±0.1μm的高精度测量,操作直观便捷,可瞬间完成复杂形状的尺寸验证。

超精密三维及表面形貌测量(Nano-Scale Analysis)

通过纳米及微米级微细表面粗糙度与三维形貌分析,最大程度提升超精密零部件的制造完成度。

- 3D激光显微镜(KEYENCE VK-X系列): 采用激光共焦方式,以1nm(纳米)分辨率进行表面形貌测量,重复精度达0.08nm级别。

- 3D图像尺寸测量系统(KEYENCE LM-X系列): 通过高分辨率图像传感器实现±0.1μm的高精度测量,操作直观便捷,可瞬间完成复杂形状的尺寸验证。

高精度尺寸与坐标测量(Dimensional Verification)

为满足半导体工艺用夹具及喷嘴的严格公差要求,配备多种非接触式及接触式精密测量设备。

- 非接触式三坐标测量仪(QVP-5040): 通过Full CNC控制,以0.0001mm分辨率精密测量产品X、Y、Z轴坐标,尤其对AlN/SiC材质零部件的平面度与平行度管控精度达1~2μm级别。

- 高性能高度规(Mitutoyo QMH-600AX): 具备0.001mm分辨率的精密高度测量仪,可快速准确地检测零部件的高度与台阶差。

高精度尺寸与坐标测量(Dimensional Verification)

为满足半导体工艺用夹具及喷嘴的严格公差要求,配备多种非接触式及接触式精密测量设备。

- 非接触式三坐标测量仪(QVP-5040): 通过Full CNC控制,以0.0001mm分辨率精密测量产品X、Y、Z轴坐标,尤其对AlN/SiC材质零部件的平面度与平行度管控精度达1~2μm级别。

- 高性能高度规(Mitutoyo QMH-600AX): 具备0.001mm分辨率的精密高度测量仪,可快速准确地检测零部件的高度与台阶差。

加热器性能与可靠性测试(Performance & Reliability)

对工业用加热器的发热特性与电气安全性进行全数检验,确保产品在严苛工艺环境下的稳定运行。

- 热成像性能分析: 利用热成像仪对加热器表面的**温度均匀性(Temperature Uniformity)**及快速升温性能(每秒200°C以上)进行实时监测。

- 电气安全性检验: 使用耐压测试仪及绝缘电阻计,验证1.5kV以上的耐压性能及1GΩ以上的绝缘电阻,切实保障使用安全。

- 精密数据记录: 通过**数据记录仪(Data Logger)**采集并分析长时间加热过程中的温度变化数据,对产品长期可靠性进行综合评估。

- 电阻精密测量: 使用精密电阻测量仪对加热器核心规格参数——电阻值进行严格管控,确保偏差在允许范围以内。

加热器性能与可靠性测试(Performance & Reliability)

对工业用加热器的发热特性与电气安全性进行全数检验,确保产品在严苛工艺环境下的稳定运行。

- 热成像性能分析: 利用热成像仪对加热器表面的**温度均匀性(Temperature Uniformity)**及快速升温性能(每秒200°C以上)进行实时监测。

- 电气安全性检验: 使用耐压测试仪及绝缘电阻计,验证1.5kV以上的耐压性能及1GΩ以上的绝缘电阻,切实保障使用安全。

- 精密数据记录: 通过**数据记录仪(Data Logger)**采集并分析长时间加热过程中的温度变化数据,对产品长期可靠性进行综合评估。

- 电阻精密测量: 使用精密电阻测量仪对加热器核心规格参数——电阻值进行严格管控,确保偏差在允许范围以内。

Fax. +82 (031) 794-5085

hsck013@gmail.com

Address

HSCK Co., Ltd.

总部_京畿道广州市南汉山城面会安大路1416号
研发中心_京畿道河南市曹亭大路45号 米沙森图姆商务中心 F836 

© Copyright 2026. All Rights Reserved by HSCK

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- 3D激光显微镜(KEYENCE VK-X系列): 采用激光共焦方式,以1nm(纳米)分辨率进行表面形貌测量,重复精度达0.08nm级别。

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超精密三维及表面形貌测量(Nano-Scale Analysis)

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高精度尺寸与坐标测量(Dimensional Verification)

为满足半导体工艺用夹具及喷嘴的严格公差要求,配备多种非接触式及接触式精密测量设备。

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超精密三维及表面形貌测量(Nano-Scale Analysis)

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- 3D激光显微镜(KEYENCE VK-X系列): 采用激光共焦方式,以1nm(纳米)分辨率进行表面形貌测量,重复精度达0.08nm级别。

- 3D图像尺寸测量系统(KEYENCE LM-X系列): 通过高分辨率图像传感器实现±0.1μm的高精度测量,操作直观便捷,可瞬间完成复杂形状的尺寸验证。

超精密三维及表面形貌测量(Nano-Scale Analysis)

通过纳米及微米级微细表面粗糙度与三维形貌分析,最大程度提升超精密零部件的制造完成度。

- 3D激光显微镜(KEYENCE VK-X系列): 采用激光共焦方式,以1nm(纳米)分辨率进行表面形貌测量,重复精度达0.08nm级别。

- 3D图像尺寸测量系统(KEYENCE LM-X系列): 通过高分辨率图像传感器实现±0.1μm的高精度测量,操作直观便捷,可瞬间完成复杂形状的尺寸验证。

高精度尺寸与坐标测量(Dimensional Verification)

为满足半导体工艺用夹具及喷嘴的严格公差要求,配备多种非接触式及接触式精密测量设备。

- 非接触式三坐标测量仪(QVP-5040): 通过Full CNC控制,以0.0001mm分辨率精密测量产品X、Y、Z轴坐标,尤其对AlN/SiC材质零部件的平面度与平行度管控精度达1~2μm级别。

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高精度尺寸与坐标测量(Dimensional Verification)

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